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ROHS2.0测试方法中IEC62321系列标准是什么
来源:技术文章    发布时间:2019-01-10    浏览:166次

2017年3月28日,国际电工委员会(IEC)发布两个电子电电器产品中有害物质测试标准:IEC 62321-7-2:2017 通过比色法测定聚合物和电子材料中的六价铬和IEC 62321-8:2017 通过GC-MS或Py/TD-GC–MS测定聚合物中的邻苯二甲酸酯。

IEC 62321是国际电工委员会(IEC)制定的关于电子电气产品中限用有害物质的测试方法。IEC 62321: 2008六种管控物质(铅,汞,镉,六价铬,多溴联苯,多溴联苯醚)的测定,其中包括了,定义,测试方法总述,机械制样,XRF扫描方法以及各物质的具体测试方法。2013年5月17日开始,IEC发布新的方法,将IEC 62321: 2008拆分为一系列标准,同时导入了新的测试方法或仪器。

本次更新的 IEC 62321-7-2 通过比色法测定聚合物和电子材料中的六价铬中,采用有机溶剂代替热水提取法从样品中提取六价铬。IEC 62321-8通过GC-MS或Py/TD-GC–MS测定聚合物中的邻苯二甲酸酯新增了针对7项邻苯的两种测试方法。

2018年,IEC 将更新其它三项标准:IEC 62321-3-2 2.0 使用C-IC对聚合物和电子产品中的氟、溴、氯进行筛。籌EC 62321-3-3 1.0 使用PY-GC-MS、TD-GC-MS对聚合物中的多溴联苯、多溴二苯醚 、特定邻苯二甲酸盐进行筛选以及IEC 62321-10 1.0 通过GC-MS测定聚合物和电子材料中的多环芳烃。

 

目前所有已更新的IEC 62321标准及其变化如下:

编号名称主要变化
IEC 62321-1简介和概述基本一致
IEC 62321-2样品的拆卸、拆解和机械拆分基本一致
IEC 62321-3-1电子产品中的铅、汞、镉、总铬和总溴的筛选基本一致
IEC 62321-3-2使用C-IC对聚合物和电子产品中的总溴进行筛选新增C-IC方法
IEC 62321-4使用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物、金属和电子材料中的汞新增热解析金汞齐化系统方法
IEC 62321-5使用AAS、AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物和电子材料中的汞、镉、铅和铬,以及金属中的镉和铅总铬的测试要求,新增检测方法AFS
IEC 62321-6使用GC-MS、IAMS和HPLC测定聚合物和电子材料中的多溴联苯和多溴二苯醚新增检测方法AFS IAMS/HPLC
IEC 62321-7-1通过比色法测定金属无色和有色防腐镀层中六价铬对六价铬结果的阴性阳性判定基准改为小于0.1µg/cm2
IEC 62321-7-2通过比色法测定聚合物和电子材料中的六价铬采用有机溶剂从样品中提取六价铬
IEC 62321-8通过GC-MS或Py/TD-GC–MS测定聚合物中的邻苯二甲酸酯新增章节,针对7项邻苯提出两种测试方法

 

 C-IC 燃烧离子色谱法

 PY-GC-MS 热裂解气相色谱质谱联用仪

 IAMS 离子附着质谱法

 TD-GC-MS 热脱附气相色谱质谱联用仪

 

以上信息来源网络收集。

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